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希捷:首次正式确认垂直磁记录的面记录密度可达100G

发布时间:2019-05-28 10:24 来源:未知 编辑:admin

  日前,希捷科技(Seagate Technology LLC)证实使用垂直磁记录方式可将硬盘面记录密度提高到100Gbit/平方英寸。尽管希捷没有公布位错码率等有关信息,但表示此次验证是“采用业界通用的方法进行的”。此前还从未有过利用垂直磁记录方式达到100Gbit/平方英寸的试验结果。

  试验证实,线kTPI,数据传输速度为330Mbit/秒。验证实验中使用的装置具有多个磁头和记录介质,结构接近于硬盘。信号处理也是利用硬件进行的。记录和播放利用同一个磁头进行,使用双层垂直记录介质。此外,希捷还使用垂直记录方式在面记录密度为60Gbit/平方英寸的条件下成功地进行了125MB/秒的数据传输实验。该公司表示将于2004年投产的硬盘中使用这些技术。

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